Определение постоянной Планка
состоит из платформы, на которой смонтированы полупроводниковый лазер и электрическая цепь,
обеспечивающая плавную регулировку напряжения питания, дифракционной решетки и линейки,
а которой производится регистрация дифракционного спектра.
Технические данные:
Набор демонстрационный предназначен для определения длины волны излучения полупроводникового лазера и постоянной Планка.
Состав:
- Полупроводниковый лазер и источником питания
- Дифракционная решетка 300 штр./мм
- Линейка с магнитами
Лабораторные опыты:
1. Определение длины волны излучения полупроводникового лазера
2. Определение постоянной Планка
В набор входит платформа, на которой смонтированы полупроводниковый лазер и электрическая цепь, обеспечивающая плавную регулировку напряжения питания, дифракционной решетки и линейки, на которой производится регистрация дифракционного спектра. Платформа и линейка имеют магниты для закрепления их на вертикальной поверхности классной доски. Закрепление лазера и дифракционной решетки на платформе выполнено с использованием магнитов, что обеспечивает возможность настройки оптической схемы.
Для работы набора необходимы:
* Комплект цифровых измерителей тока и напряжений
* Комплект проводов
* Классная металлическая (магнитная) доска